福斯特推出多種PID完全解決方案
來源：點擊量：7344發布時間：2012-11-23
PID (Potential Induced Degradation)，即潛在電勢誘導衰減，是指組件的輸出功率在高強度負電壓誘導下發生衰減的現象。電站的實際運行中，系統電壓對組件有持續的“電勢差”誘發衰減作用，嚴重時會導致功率衰減50%以上。系統、組件和電池片三個方面都可能引起PID現象。
在組件層面，使用高性能的封裝材料可以有效解決這一問題。針對PID問題，福斯特研發中心憑借其多年的EVA膠膜生產、研發經驗，經過大量的實驗，成功推出多種PID問題的完全解決方案。
方案一是通過提高EVA膠膜的絕緣性能和阻隔性，從而使太陽能電池組件完全可以通過相關權威機構的PID測試。（測試條件為60溫度、85%濕度，在負1000伏電壓下，經過96小時，其功率損失小于2%）
方案二是公司研發出的新型TF膠膜系列產品，該系列產品具有優越的絕緣性能和阻隔性，可幫助組件通過85溫度、85%濕度、96小時的高標準測試，是我司強烈推薦的完全解決PID問題的方案。
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